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日本エス・エス・エム株式会社は、平成21 年10 月26 日に、
日本セミラボ株式会社 に社名変更及び住所変更を致しました。
弊社では、半導体検査装置 および 太陽電池に必要なシリコン検査装置の販売・サポートしております。

新Website完成まで暫くお待ちください。
新住所:〒194-0022 東京都町田市森野1-27-14
TEL:042-729-6615 FAX:042-729-7577   弊社地図>>


   


<Semilab (セミラボ)製品取扱いについて>

Semilab社による米国SSM社の株式取得により、その子会社であります 日本エス ・エス ・エム株式会社は、Semilab社の孫会社となりました。それに伴い、Semilab製品の日本での営業および技術サービスを 2008年4月1日より, アイメック株式会社 から引き継ぎました。
また SemLab社製品の国内代理店は、他に、もう一社、伯東株式会社が御座いまして、今まで 同社には、デバイスメーカー殿への営業および技術サービスを 担当していただいておりましたが、2009年7月1日をもちまして。Semilab社製品の営業、技術サービス等すべての業務を伯東株式会社から弊社に移管させていただくこととなりました。
今まで、お客様への
製品の拡販や技術サービスに尽力されました伯東株式会社のご協力を得まして、お客様に不都合、ご迷惑等がかからぬように上記業務を引き継ぐ所存でおります。


 


  ■ 全自動広がり抵抗測定装置(SRP)

    SSM 2000

  ■ 自動水銀プローブCV測定装置

   SSM 495
   SSM 530
   SSM 5130

  ■ FastGate(R) CV測定装置

   SSM 5200 SSM 5400(Epi)
   SSM 6100 SSM 6200

  ■非接触式 Low-k膜プロセス評価装置

   SSM 6300


    ■ シリコン 総合評価装置
        (インゴット ライフタイム等)

     WT−2000

  ■ 結晶欠陥検査システム

    SIRM−300
    
     LST- 300 a

  ■ 抵抗測定器

    RT−1000

  ■ P /N 判定ツール

    PN−100

 

 


<SOPRA (ソープラ)製品取扱いについて>

この度、Semilab社による仏国Sopra社の資産買収と、その後のSopralab社の設立に伴い、2009年4月1日より 弊社は、Sopralab社の国内代理店となり、製品の販売と技術サービスを提供させていただくこととなりました。
また、旧Sopra社製品の保守サービスにつきましても、Sopra社の国内代理店で長年製品の拡販やお客様への
技術サービスに尽力されました西華産業株式会社のご協力を得まして、お客様に不都合、ご迷惑等がかからぬように上記業務を引き継ぐ所存でおります。


 

 



    ■ 分光エリプソメーター
    Spectrosopic Ellipsometer (SE)

   GES-5e

    ■ 高性能分光エリプソメーター

    IRSE-5     RT-SE


    ■ 細孔材料計測
        エリプソメトリック・ポロシメトリー
    Ellipsometric Porosimeter

      EP          EP-A

                       >>製品紹介



  SEMILAB AMS  


<旧QC Solutions 製品取扱いについて>

Semilab社による米国QC Solutions社の資産買収と、その後のSemillab AMS社への旧 QC Solutions社資産併合に伴い、2009年6月1日より 弊社は、伊藤忠メカトロニクス株式会社から 旧QC Solutions社製品の販売と技術サービスを引き継ぐこととなりました。
旧QC Solutions 社の国内代理店で長年製品の拡販やお客様への技術サービスに尽力されました伊藤忠メカトロニクス株式会社のご協力を得まして、お客様に不都合、ご迷惑等がかからぬように上記業務を引き継ぐ所存でおります。

<旧AMS 製品取扱いについて>

Semilab社による米国AMS社の資産買収と、その後のSemillab AMS社の設立に伴い、2009年7月1日より 弊社は、Semilab AMS社の国内総代理店となり、製品の販売と技術サービスを提供させていただくことになりました。また、旧AMS 社の国内代理店で長年製品の拡販やお客様への技術サービスに尽力されました稲畑株式会社のご協力を得まして、お客様に不都合、ご迷惑等がかからぬように上記業務を引き継ぐ所存でおります。


 

 

SQ Solutions


    ■ サーフェイスチャージ
     プロファイラー (SCP)

   QCS-7000 Series

 
    ■ Model-Based Infrared         Reflectometry
   トレンチ深さ、CD評価対応測定装置

   IR3100

    ■ SurfaceWave Technology
   薄膜膜厚・ヤング率測定装置

   SW3300A

  

 

    

 

                      >>製品紹介

 

 

 
 

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